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Bettersize3000Plus激光/图像粒度粒形分析仪

发布时间:2025-12-15 14:01:49浏览次数:

产品介绍
Bettersize3000Plus激光/图像粒度粒形分析仪是一种激光+图像二合一的粒度粒形分析系统。它的激光散射系统为双镜头斜入射光学系统,成像系统为动态双路远心显微成像系统,可同步进行粒度和粒形分析,实现了一机两用。
双镜头斜入射光学系统是由大功率泵浦偏振激光器、进口镜头组、石英样品池和全角度光电探测器阵列组成。由于采用了高性能的镜头和独特的激光斜入射结构,在单光束条件下实现了全角度散射光信号的接收——这是百特原创的专利技术。这种技术不仅达到了进口仪器的使用多光束技术来扩大散射光角度的效果,还避免了多光束技术造成的间断散射光信号的连接偏差和多波长造成的样品折射率偏差,使测试结果更准确,同时实现了对纳米、微米甚至毫米级样品的准确粒度测试。由于探测器数量多和结构独特,该仪器具有超强分辨单峰、双峰和多峰样品的能力。同时,该仪器还具有样品折射率测量技术、自动对中技术、防干烧超声波分散技术、SOP技术、大功率短波长偏振光技术等,进一步保证了重复性、准确性和分辨力。
动态双路远心显微成像系统并联在激光散射系统中,可随时拍摄流动中的颗粒图像并同时进行粒形分析,在得到粒度分布的同时,还能同时得到圆形度、长径比、粗糙度等粒形参数。更重要的是,这个显微成像系统能准确捕捉到样品中的最大颗粒,实现了D100的有效测量,弥补了激光粒度仪无法测试D100的缺憾,为锂电池等领域提供了准确测试D100的可靠手段。
基本性能指标


测试范围

0.01-3500μm (能测D100)

测量原理

米氏散射理论(默认)、费氏衍射理论(可选)、动态图像

准确性与重复性误差

≤0.5%(国家或国际标样 D50 偏差)

准确性标定

有,通过该功能确保仪器的准确性

双峰分辨力

A级(JJF1211-2008、JJG167-2020),具备多峰分辨能力

激光光源

大功率偏振泵浦光纤固体激光器(短波长)

光电探测器

96个(前向、侧向和后向)

光学系统

双镜头斜入射光学系统(专利技术)

折射率测量

有,能测样品折射率(专利技术)

湿法分散系统

①水介质自动循环分散系统(内置防干烧超声波分散器,0-50W连续可调,具有自动进水、
自动排放、自动清洗功能)
②溶剂介质循环分散系统
③自动加样系统(BT-A60)

成像系统

双高速摄像机,双路光学成像系统

测量模式

一键模式(SOP)/手动模式/自动加样模式/激光+动态图像模式/动态图像模式

最快单次测试时间

≤1S

数据安全

FDA 21 CFR PART 11

相关药典

USP429 / EP2.9.38 / 中国药典 0982

相关标准

ISO 13320-2020,GB / T 19077-2024,GB/T 41949-2022

电源

100-240VAC,50/60Hz,2.5A

应用领域
●各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸锆、氧化锆、氧化镁、氧化锌等。
●各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。
●其它粉体:河流泥沙、锂电池材料、催化剂、荧光粉、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、纳米材料、造纸填料涂料、各种乳液等。
突出特点
●斜入射双镜头技术:百特专利技术,采用激光斜入射技术,结合前向、侧向和后向散射光探测技术,达到全角度测量,扩大了测量范围,提升了细颗粒端的测量精度,提升了分辨率。
●显微图像与激光散射二合一技术:激光法测试细颗粒具有优势,图像法测试粗颗粒准确度高,采用激光与图像联合测试属于强强联合,测试结果准确性更高,同时可进行粒形分析。
●样品折射率测试技术:对未知折射率的样品可以先测量折射率,包括实部和虚部,保证了粒度测试的准确性。
●自动循环分散与自动测试技术:防干烧超声波分散器、离心循环泵、自动进水系统、自动排水和溢水系统,适用于所有样品,保证了样品充分分散,保证了测试的准确性和重复性。
良好的重复性


良好的准确性

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