BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位分析仪

粒径范围

0.3 nm - 15 μm*

样品量

最小3μL，常规1ml（可订制其它容量）*

检测角度

173°+90°+11.2°（可对应高浓度粒度和低浓度粒度）

样品浓度

≤40%（W/V）*

粒径算法

Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta范围

无实际限制

原理

相位分析光散射PALS

电泳迁移率范围

> ±20 μ.cm/V.s

电导率范围

0 - ≥270 mS/cm *

Zeta测试粒径范围

1 nm – >120 μm *

粒径范围

1 μm - 50 μm *

检测角度

0°（PD检测器）

样品量

1 – 3 ml

分子量范围

342 Da – 2 x 107 Da *

测试能力

均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量、复数粘度

温度趋势

粒度与Zeta电位随温度变化趋势，自动检测温度转变点Tm

时间趋势

粒度与Zeta电位随时间的变化趋势

pH值趋势

粒度与Zeta电位随pH值的变化趋势 *

检测方法

LEDLS

测试能力

体积分数和数量浓度

折射率范围与精度

1.2 - 1.6，液体，精度优于0.1%

检测方法

楔形池样品折射法（无需示踪粒子）

检测角度

0°（CMOS检测器）

样品量

380 μL – 1 ml

温控范围

-15°C - 120°C

冷凝控制

干燥空气或者氮气

激光器

高性能固体激光器，波长671nm（不同波长激光器可选）

相关器

快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，1011动态线性范围

检测器

APD+PD+CMOS

光强控制

0.0001% -100%，自动或手动控制

* 依赖于样品和选件