SE-VE光谱椭偏仪

SE-VE是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成化设计，操作简便键快速测量和向导交互式人机界面，具有丰富的材料数据库和算法模型库强大的数据分析能力。
一、概述
SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪，紧凑集成设计，使用简便，可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。
■ 超高性价比光学椭偏测量解决方案；
■ 紧凑集成化设计，极致用户操作体验；
■ 一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷；
■ 丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力。
二、产品特点
■ 采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm)；

■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料。

三、产品应用
SE-VE光谱椭偏仪广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。